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多元硅漂移探测系统招标公告

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购品目:A********-射线式分析仪器采购需求概况:拟采购的多元硅漂移探测系统,主要用于HEPS光源硬X射线纳米探针线站开展X射线微弱荧光信号探测实验,可以在大气实验环境下对微纳样品内部痕量元素的分布进行有效表征;其主要指标是探测传感器材料为Si,传感器厚度≥1mm,总探测单元数≥7元,能量分辨率好于********
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