件参数测量仪采购需求概况：低频噪声测试系统1台，用于测量在片或封装半导体器件###路的低频噪声特性，如MOSFET、BJT、二极管、电阻等。该系统可进行半导体器件的常规电学参数测试与分析，有I-V（电流-电压）参数、C-V（电容-电压）参数、I-T参数等，也可进行高精度、宽带宽噪声测试，满足高温半导体器件噪声模型..
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